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X-ray identification of randomly interstratified illite-smectite in mixtures with discrete illite

  • Jan Środoń (a1)

Proportions of the component layers in randomly interstratified illite-smectites can be determined precisely in the presence of discrete illite if two reflections (at 15–16 and 31–32°2θ Cu Kα) are strong enough to be measured accurately. The method takes into account the variable thickness of the smectite-ethylene glycol complex and involves a correction for the interference from illite reflections.


Les proportions des feuillets composant une illite/smectite interstratifiée au hasard, peuvent être déterminées avec précision en présence d'illite pure si deux réflexions sont suffisamment fortes pour qu'elles puissent être mesurées avec précision (à 15-16 et 31-32°20 CuKα). La méthode tient compte de l'épaisseur variable du complexe smectite-éthylène glycol et utilise une correction de l'interférence due aux réflexions de l'illite.


Die Anteile der Schichtkomponenten von unregelmäßig wechselgelagerten Illit-Smectiten lassen sich in Gegenwart von Illit genau bestimmen, wenn zwei Reflexe (bei 15-16 und 31-32°20,CuKα) deutlich genug sind, um genau gemessen werden zu können. Die Methode berücksichtigt die variable Dicke des Smectit-Ethylenglycol-Komplexes und beinhaltet eine Korrektur für die Interferenzen von Illitreflexen.


La proporción de los diferentes componentes de un mineral interestratificado al azar ilita-esmectita puede ser determinada exactamente en presencia de cantidades discretas de ilita si dos reflexiones (a 15-16 y 31-32°20CuKα) son lo suficientemente fuertes para ser medidas exactamente. El método se basa en el espesor variable del complejo esmectia-etilenglicol e incluye una correción por la interferencia de las reflexiones de la ilita.

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Clay Minerals
  • ISSN: 0009-8558
  • EISSN: 1471-8030
  • URL: /core/journals/clay-minerals
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